Jak vyřešit problém elektromagnetického rušení kapacitní dotykové obrazovky

Jako hlavní technologie vícedotykového rozhraní je kapacitní dotyková obrazovka široce používána v průmyslových zařízeních. Odolnost proti rušení kapacitní dotykové obrazovky je jedním z požadavků na výkon dotykové obrazovky. Pokud je rušení slabé, ovlivní to účinek dotykové obrazovky rozvaděče.

Například dotyk není citlivý a přesný. A další záležitosti. Problém elektromagnetického rušení průmyslových dotykových obrazovek je v rané fázi vývoje a designu velmi náročný.

Promítaná kapacitní dotyková obrazovka dokáže přesně lokalizovat polohu, kde se prst dotýká obrazovky LCD, a může posoudit polohu prstu měřením malé změny kapacity. Klíčovým konstrukčním hlediskem u takových aplikací s dotykovou obrazovkou je vliv elektromagnetického rušení (EMI) na výkon systému. Snížení výkonu způsobené rušením může nepříznivě ovlivnit design dotykové obrazovky.

Typické projektované kapacitní snímače jsou namontovány pod skleněným nebo plastovým krytem. Vysílací (Tx) a přijímací (Rx) elektrody jsou připojeny k transparentnímu oxidu india a cínu (ITO), tvořící křížovou matrici, přičemž každý Tx-Rx přechod má charakteristickou kapacitu. Tx ITO je umístěn pod Rx ITO, oddělený polymerovým filmem nebo optickým lepidlem (OCA).

Pojďme analyzovat práci dotykové obrazovky: Prsty operátora jsou údajně na zemském potenciálu. Rx je udržován na zemním potenciálu řídicím obvodem dotykové obrazovky, zatímco napětí Tx je proměnné. Měnící se napětí Tx způsobuje, že proud protéká kondenzátorem Tx-Rx. Rx byl oceněn jako integrovaný obvod, izoluje a měří náboj vstupující do Rx. Naměřený náboj představuje "vzájemnou kapacitu" spojující Tx a Rx.

Projektované kapacitní dotykové obrazovky, které jsou dnes široce používány v přenosných zařízeních, jsou citlivé na elektromagnetické rušení a rušivá napětí z interních nebo externích zdrojů jsou kapacitně připojena k # průmyslovému LCD modulu # zařízení s dotykovou obrazovkou. Tato rušivá napětí způsobují pohyb náboje na dotykové obrazovce, což může zmást měření pohybu náboje, když se prst dotkne obrazovky. Efektivní návrh a optimalizace systémů dotykových obrazovek proto závisí na pochopení interferenční vazebné cesty a její co největší redukci nebo kompenzaci.

Interferenční vazebné cesty zahrnují parazitní efekty, jako je kapacita vinutí transformátoru a kapacita prstového zařízení. Správné modelování těchto účinků může poskytnout dobrou představu o zdroji a velikosti rušení.

U mnoha přenosných zařízení představuje nabíječka baterií hlavní zdroj rušení dotykové obrazovky. Když se prst operátora dotkne dotykové obrazovky, generovaná kapacita způsobí vypnutí rušivé spojky nabíječky # malá velikost tft lcd# obvodu. Klíčovými faktory ovlivňujícími interferenční vazbu nabíječky jsou kvalita provedení vnitřního stínění nabíječky a správná konstrukce uzemnění nabíječky.